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显微镜矿石粒度分析


   显微镜往往用作一种独特的矿石粒度分析方法,因为它是能观察和测定单个粒子的唯一方法。在显微镜下所见到的一个颗粒图像是二维的,根据这一图像,对颗粒大小做出估计。显微镜矿石粒度分析是把颗粒的投影面积与已知大小的参比圆环或刻度尺进行比较;为了获得有意义的结果,必须使颗粒的平均投影面积能代表颗粒的大小。这就要求在显微镜载片上的颗粒任意地三维取向,而这在大多数情况下是不可能的。

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    0.8~150微米粒级的颗粒可以使用光学显微镜方法,而小至0.001微米则需采用电子显微镜。

    基本上所有的显微镜都是用极小的实验室进行矿石粒度分析;为了使试样具有真正的代表性,必须非常精心地取样。

    分散的颗粒通过透射显微镜进行观察,将放大图像的面积与刻度尺上已知大小的圆环面积相比较。

    对粒级系列中每一粒级的颗粒相对数记性确定。这些相对数代表数量矿石粒度分布,据此可以算出体积矿石粒度分布,如果所有颗粒比重相同,则可算出重量矿石粒度分布。

    用显微镜载片作人工分析既乏味又容易出错,因此,已研制出能加快分析速度、避免人工分析缺陷的半自动和自动装置。

    定量图像分析的发展使得有可能用实验室小试样对微细颗粒进行迅速的矿石粒度测定。图像分析仪能以各种形式(照相图、电子显微像图和直观观察)考查试样。视场内的颗粒被一个电视摄像机扫描并在控制盘上显示出来,而试样发出的电信号则送至探测器。在探测器里,由选定的组件完成专门的图像分析功能,待测颗粒的特性随后送至模拟计算机,由计算机计算所选择的数据,并以需要的放好四贮存或给出。

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